Kern technische innovaties
● Ultra-weinig ruis en hoge resolutie
Maakt gebruik van X-Vision III-architectuur met basisruis van slechts 200 μV, waardoor nauwkeurige signaalanalyse op μV--niveau mogelijk is.
●12-bit verticale resolutie(uitbreidbaar tot 16-bit in verbeterde modus), ondersteunt signaalopname met hoog dynamisch bereik.
●Hoge bemonsterings- en opslagcapaciteit
Bandbreedte: 20 MHz–500 MHz (bijv. ADS3000-serie); Real- samplingsnelheid tot 2,5GSa/s; De opslagdiepte van 100Mpts zorgt voor lange-golfvormopnamen.
●Registratiesnelheid van golfvormen: 500.000–750.000 wfms/s (in Sequence-modus), waardoor de detectie van voorbijgaande afwijkingen aanzienlijk wordt verbeterd.
●Hybride signaalanalyse
Ondersteunt 4 analoge + 16 digitale kanalen met hardware-versnelde I2C/SPI/CAN/LIN-protocoldecodering voor real-time bussignaalparsing. Geavanceerde triggermodi: Edge-, Pulse-, Window-, Logic- en Protocol-triggers.
Belangrijkste toepassingen
●Nieuw energie- en krachtontwerp
μV-niveaunauwkeurigheid voor MPPT-efficiëntieanalyse van fotovoltaïsche omvormers en lusresponstesten van energieopslagsystemen.
●Auto-elektronica
Hardware-gedecodeerde CAN FD/LIN-bussignalen voor validatie van de ECU-signaalintegriteit en diagnose van sensorruis.
●5G en snelle-communicatie
Ondersteunt PCIe 6.0-jitteranalyse en RF-signaalspectrumanalyse voor telecom-R&D.
●Onderzoek & Onderwijs
Budgetmodellen integreren FFT-analyse en het genereren van Lissajous-patronen voor universitaire laboratoria.
Concurrentievoordelen
●Kosten-Effectieve lokalisatie
●Software-ecosysteem
Afstandsbediening via SCPI-opdrachten en LabVIEW-integratie; ondersteunt geautomatiseerde testworkflows.
Technische evolutietrends
Intelligente diagnostiek
Groen testen
Opto-elektronische integratie
